今天去德国论坛上看到了高人们测试IBM 75系列的最终结果报告~
IBM硬盘在电机逻辑控制设计上的确存在缺陷，磁头读写逻辑变换时可能出现打盘（磁头过于接进磁盘表面，被逻辑保护电路强制取消，明显的会出现铛、铛声）。一般来说打盘问题多出现于供电不正常或工作时外部冲击，正常情况下很少会出现这种问题。长期出现打盘，很快会导致磁头易位、电机轴承中心位误差过大、电机供电控制DSP和逻辑控制DSP的完蛋。这种“死亡”很可能是没有前兆的，电机供电控制DSP如果突然挂了，硬盘就再也不可能启动（如果在启动瞬间挂掉的，很可能导致磁头飞盘－磁头直接接触数据存储性盘面，磁盘表面出现很大的物理性毁坏）。
这个设计缺陷存在与基本全部出厂期在34周内的75系列硬盘，甚至包括了最早出现的部分60系列。
IBM对此的认识不足是可以理解的。75系列的玻璃盘面设计在很大程度上没有进行足够的相关测试，但这些测试都是在出问题后才开始考虑到的。按照传统硬盘碟片设计方案来说，这些所谓“额外”的测试很多都从来没有进行过。75系列出问题也是在大约开始销售后20周才陆陆续续出现，特别在对于中国用户的投诉，IBM最开始是以水货问题论处。
看了以上内容，偶并不想多说什么。希望各位不用一棒子打死IBM的全部东西...
最后说一下，并不是说有75系列都有问题，34周后出厂的就已经修正了这个问题。好像IBM硬盘是有工具可以查看出厂日期的～～～～
本来发到回复里，想想还是单独给大家说说比较好~~~
看完了8要874偶啊~~~~
斑竹要是觉得好可以置顶给大家看看~~~~
